| Academiejaar: | 2007-2008 |
| Code opleidingsonderdeel: | MCHE1002 |
| Semester: | 1e semester |
| Studiepunten: | 3 |
| Uren Studietijd: | 84 |
| Uren theorie: | 25,00 |
| Uren praktijk: | |
| Uren andere: | |
| Deeltijds programma: | 1 |
| Titularis(sen) | Koen Janssens
|
| Taal waarin de cursus wordt gedoceerd: | Nederlands |
| Info semesterexamen: | verplicht semesterexamen in januari |
| Info contractrestrictie: | |
1. Aanvangscompetenties (begintermen)
*Algemene competenties
Er wordt verwacht dat de studenten vertrouwd zijn met een aantal principes uit de statistiek, klassieke en instrumentele analytische chemie, fysisch chemie en natuurkunde, met name:
de analytische principes van atomaire en moleculaire absorptie/emissie en fluorescentie en bijbehorende instrumentatie,
de fysische eigenschappen van elektrische en magnetische velden, van elektromagnetische straling, van de gekwantiseerde aard van elektronische niveaus in atomen en moleculen. Ook wordt enige kennis van optica en van de interactie tussen straling en materie wordt verondersteld.
*Volgtijdelijkheid
Download volgtijdelijkheid
2. Eindcompetenties (eindtermen)
De bedoeling van de cursus is de studenten vertrouwd te maken met een aantal geavanceerde analysemethoden die is
vele chemische laboratoria, firma's en onderzoeksinstituten aangewend worden, nl., de verschillende vormen en varianten
electronenmicroscopie, scanning microscopieen zoals STM en AFM, FTIR- en Raman microscopie en fluorescentie microscopie.
Deze worden in toenemende mate gebruikt om nieuw gesynthetiseerde materialen, ofwel als onderdeel van ontwikkelingsprogramma's
ofwel als onderdeel van routineproductie, te karakteriseren en aan de hand van de microscopische informatie aldus bekomen,
verder ontwikkeling of productie te sturen. Zowel methoden die atomair, moleculaire als structurele informatie opleveren in het
micro- en in het nanometergebied komen aan de orde.
De studenten verwerven de competentie om wanneer ze in de toekomst geconfronteerd zullen worden met een
probleem dat analyse van heterogene vaste materialen vereist (a) over inzicht te beschikken over het nut en het
toepassingsgebied van diverse, veelgebruikte, microscopische analysetechnieken, (b) een rangschikking te kunnen maken
de analysemethoden die het best bij een specifiek probleem passen.
3. Inhoud
De volgende onderwerpen worden behandeld:
1) Lichtmicroscopie en zijn beperkingen; transmissie en scanning electronenmicroscopie
2) Scanning probe microscopies (SPMs): Scanning Tunneling Microscopy (STM), Atomic Force Microscopy (AFM) en Scanning Near-field Optical Microscopy (SNOM)
3) Infra-rood en Raman microscopie
4) Moleculaire fluorescentie microscopie
4. Werkvormen
Contactmomenten: HoorcollegesPractica
5. Evaluatievormen
Examen: Schriftelijk met mondelinge toelichtingGesloten boekOpen vragenPracticum
Schriftelijk werkstuk: met mondelinge toelichting
Presentatie
6. Noodzakelijk studiemateriaal
Er is een cursus van ca 200 blz. beschikbaar.
7. Facultatief studiemateriaal
8. Studiebegeleiding