Personen | Personen nieuwe site | Google | Route | Contact Login 
Opleidingsonderdelen 2012-2013  
    
Chemical nanocharacterisation
Studiegidsnr:2001WETCNC
Vakgebied:Fysica
Semester:2e semester
Contacturen:35
Studiepunten:3
Studiebelasting:84
Contractrestrictie(s):Geen contractrestrictie
Instructietaal:Engels
Examen:2e semester
Lesgever(s)Luc Van Vaeck

 

Deze cursusinformatie is bedoeld om de student te ondersteunen bij het verwerken van de leerstof


1. Aanvangscompetenties

Bij aanvang van dit opleidingsonderdeel dient de student over de volgende competenties te beschikken:
Actieve beheersing van :
  • Nederlands
  • Engels
  • Een algemene kennis van het gebruik van een PC en het internet
Specifieke aanvangscompetenties voor dit opleidingonderdeel:

basiskennis chemie




2. Eindcompetenties



- kennis van de methoden voor chemische nanokarakterisatie
- het kunnen toepassen op een probleem van kwalitatieve en kwantitatieve lokaalanalyse
- vertrouwd zijn met de specifieke eisen van nano-analyse
- ervaring met de voordelen en mogelijkheden van moleculaire analyse
- inzicht in de rol van chemische nano-analyse bij de aanmaak van nanomaterialen


3. Inhoud

In een korte lessenreeks (15u) wordt een overzicht gegeven van de meest belangrijke methoden voor de chemische analyse van vaste stoffen met hoge laterale, diepte of spatiale resolutie. Daarbij wordt telkens ingegaan op het principe, het type informatie, het toepassingsbereik en de analytische karakteristieken van elke methode.  Er wordt zowel aandacht naar  de organische als naar anorganische analyse. In het bijzonder komen aan bod een reeks methoden gebaseerd op detectie van X-stralen (vnl. XRF, TXRF, PIXE), electronen (vnl. XPS, Auger spectrometrie), ionen (Ion scattering, Rutherford back scattering, massaspectrometrie met vnl. secundaire ionen massaspectrometrie (dynamisch en statisch) en laser microprobe massaspectrometrie). Er wordt meer uitgebreid ingegaan op de methoden die in het practische gedeelte zullen worden gebruikt, nl. statische secundaire ionenmassaspectrometrie en atomic force microscopy.

Het practische gedeelte (20u) omvat experimenteel werk (instrumenteel, geen natte chemie) op S-SIMS en AFM waarbij de studenten zelf de instrumenten bedienen en de resultaten verwerken. De experimenten omvatten hoge resolutie imaging en moleculaire diepteprofilering van organische materialen uit de practijk van de nano-analyse.  Het zijn materialen die direct aansluiten bij de industriele R&D.   




4. Werkvormen
Contactmomenten:
  • Hoorcolleges
  • Practica

  • Eigen werk:
  • Oefeningen



  • 5. Evaluatievormen

    Examen:
  • Schriftelijk met mondelinge toelichting
  • Practicum

  • Permanente evaluatie:
  • Medewerking tijdens de contactmomenten

  • Schriftelijk werkstuk:
  • met mondelinge toelichting


  • 6. Studiemateriaal

    6.1 Noodzakelijk studiemateriaal

    cursus nota's van de docent beschikbaar



    6.2 Facultatief studiemateriaal

    Het volgende studiemateriaal kan vrijblijvend bestudeerd worden.
    op basis van verwijzingen in de cursus en ter beschikking gestelde overzichtsartikels


    7. Contactgegevens en begeleiding

    Prof.dr.L. Van Vaeck, dept. Chemie (CDE), Blok B, lokaal B 1.04.
    tel 03 265 23 48; fax 03 265 23 76 ; e-mail : luc.vanvaeck@ua.ac.be
     

    (+)laatste aanpassing: 13/08/2012 10:45 luc.vanvaeck