Personen | Personen nieuwe site | Google | Route | Contact Login 
Opleidingsonderdelen 2012-2013  
    
Advanced electron microscopy
Studiegidsnr:2002WETELM
Vakgebied:Fysica
Semester:2e semester
Contacturen:30
Studiepunten:3
Studiebelasting:84
Contractrestrictie(s):Niet te volgen onder examencontracten
Instructietaal:Engels
Examen:2e semester
Lesgever(s)Sara Bals

 

Deze cursusinformatie is bedoeld om de student te ondersteunen bij het verwerken van de leerstof


1. Aanvangscompetenties

Bij aanvang van dit opleidingsonderdeel dient de student over de volgende competenties te beschikken:
Actieve beheersing van :
  • Engels
  • Een algemene kennis van het gebruik van een PC en het internet
Specifieke aanvangscompetenties voor dit opleidingonderdeel:

*Algemene competenties
Kwantummechanica, Kristalkunde, Elektromagnetisme


* Volgtijdelijkheid

Microscopy and Spectroscopy of Nanosystems




2. Eindcompetenties

De student kan de verschillende werkvormen van een elektronenmiscroscoop beschrijven en kan de voor en nadelen van de verschillende technieken beschrijven. Hij/zij kan ook de onderliggende manier van beeldvorming uitleggen.




3. Inhoud

De cursus betreft de verschillende technieken die kunnen toegepast worden met een elektronenmicroscoop. Deze technieken zijn:

High resolution electron microscopy: phase contrast imaging, TEM image simulations, High angular annular dark field electron microscopy, analytical techniques, electron tomography




4. Werkvormen
Contactmomenten:
  • Hoorcolleges
  • Oefeningensessies
  • Werkcolleges
  • Practica

  • Eigen werk:
  • Opdrachten:Individueel



  • 5. Evaluatievormen

    Schriftelijk werkstuk:
  • met mondelinge toelichting


  • 6. Studiemateriaal

    6.1 Noodzakelijk studiemateriaal

    Slides available on Blackboard. Introduction to conventional transmission electron microscopy, Marc De Graef, Cambridge University Press, ISBN 0 521 65995 0 (paperback)


    6.2 Facultatief studiemateriaal

    Het volgende studiemateriaal kan vrijblijvend bestudeerd worden.
    Introduction to conventional transmission electron microscopy, Marc De Graef, Cambridge University Press, ISBN 0 521 65995 0 (paperback)



    7. Contactgegevens en begeleiding

    Vragen kunnen per email worden gesteld: Sara.Bals@ua.ac.be
    (+)laatste aanpassing: 07/04/2013 14:22 sara.bals